本款为 Endura 集群 PVD 腔室专用 AlNAluminum Nitride 氮化铝E-Chuck Heater 加热盘适配 200mm Wafer集成三区电阻加热回路与内置 RTDResistance Temperature Detector测温传感器兼容 Cu Seed、TaN 阻挡层薄膜沉积制程。整机额定供电 AC208V总加热功率 1450W单区功率 480W温控区间常温至 400℃全域温度均匀性 ΔT≤±1.2℃RTD 测温精度 ±0.3℃升温速率 12℃/min降温冷却速率 8℃/min。盘面集成静电吸附电极静电夹持电压 0–1500V 可调吸附力稳定适配薄硅片、Compound Wafer 复合基板基材高纯氮化铝导热系数 175W/m・K等离子体耐受度适配 Ar 溅射工艺盘面平面度≤2μm边缘漏流控制0.1μA符合 SEMI S3 洁净物料标准。接口配套真空密封陶瓷引线柱适配 1×10⁻⁷Pa 高真空工艺腔REV.05 版本优化电极绝缘层降低等离子体击穿概率原厂标准使用寿命 28000 片 Wafer。二手设备保养规范存放恒温 20±3℃、湿度 40%-60% RH 无尘库房每日上机前检测 RTD 测温阻值、静电吸附回路绝缘电阻每周高纯 N₂吹扫盘面溅射金属残渣不可使用硬质刮刀刮擦陶瓷表层每月拆解检查引线柱密封圈季度校准三区加热功率平衡每半年氦质谱检漏陶瓷基座微漏长期闲置需真空封存重启空载升温至 300℃保温 1h 完成热循环校准规避膜厚不均、晶圆脱吸缺陷。海翔科技 专业提供全球二手半导体设备。免责声明Disclaimer一、内容溯源与适用范围Source Scope of Application本文全部技术参数、结构原理、机型适配及对比数据均源自设备原厂官方资料、权威标准文献及公开招标验收文件仅用于技术研究、方案对比及行业参考不作任何商业用途。二、内容效力与权责界定Validity Liability Definition本文观点与结论为通用技术参考非设备原厂官方定论不构成任何商业承诺、履约标准及验收依据未经原厂实测核验不得用于项目验收、举证追责。三、风险承担与合规说明Risk Assumption Compliance Statement使用者擅自套用、篡改本文内容产生的一切风险与法律责任由使用者自行承担本文作者及所属单位不承担任何连带责任。若存在版权及侵权异议将及时核实整改。